PCT高壓加速老化試驗箱（又名PCT老化試驗箱）是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，主要是模擬氣候環(huán)境測試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。

PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。

PCT高壓加速老化試驗機壓力與溫度對照表